大理石平臺(tái)是用石質(zhì)材料制成的精密基準(zhǔn)測(cè)量工具,對(duì)儀器儀表、精 密工具、機(jī)械制件的檢驗(yàn),都是理想的基準(zhǔn)面.特別是用于高精度的測(cè)量方面,由于它得天獨(dú)厚的特性,而使鑄鐵平板相形見(jiàn)拙。
大理石平臺(tái)平面度的誤差檢測(cè)常用的方法有四種:三點(diǎn)法、對(duì)角線法、zui小乘二法和zui小區(qū)域法等四種。
三點(diǎn)法:
三點(diǎn)法是通過(guò)實(shí)際被測(cè)的大理石平臺(tái)表面上相距zui遠(yuǎn)的三點(diǎn)所組成的平面作為評(píng)定基準(zhǔn)面,以平行于這個(gè)基準(zhǔn)面,并具有zui小距離的兩包含平面間的距離作為平面度誤差值。
對(duì)角線檢測(cè)法:
對(duì)角線檢測(cè)法是以通過(guò)實(shí)際被大理石平臺(tái)測(cè)表面上的一條對(duì)角線,并平行于另一條對(duì)角線所作的評(píng)定基準(zhǔn)面,以平行于這個(gè)基準(zhǔn)面且具有zui小距離的兩包含平面間的距離作為平面度誤差值。
zui小乘二檢測(cè)法:
zui小乘二檢測(cè)法是以實(shí)際被測(cè)大理石平臺(tái)表面的zui小二乘平面作為評(píng)定基準(zhǔn)面,以平行于zui小二乘平面,并具有zui小距離的兩包含平面間的距離作為平面度誤差值。zui小乘二平面是使實(shí)際被測(cè)表面上各點(diǎn)與該平面的距離的平方和為zui小的平面。此方法計(jì)算較為復(fù)雜,一般需要計(jì)算機(jī)處理。
zui小區(qū)域檢測(cè)法:
zui小區(qū)域檢測(cè)法是以包含實(shí)際被測(cè)表面的zui小包含區(qū)域的寬度作為平面度誤差值,是符合平面度誤差定義的評(píng)定方法。